統計設計と最悪設計

私はふつう統計設計を行う。

評価指標が性能であれば、ロット内及ロット間のばらつきを考慮しての統計設計を行う。そのためには、部品のばらつきと偏りを考慮して、そのデータ取得に労力を惜しまない。

量産の規模に依存するが、１０００個/月なら2.5σで十分だ。この規模で品質保証部門が検査する個数なら余裕のある性能が出る。

100万個の世界は、当然もっと厳しい水準で設計される。単純な公差設計の世界ではないのだ。

数個製作するだけなら、あの手この手で調整すれば1桁上の性能表示が簡単に出来る。

しかし、最悪＝ワーストケース　設計を行う部分もある。

部品の死活に関連する部分だ。そこはワースト設計をする。悲しいほどつらい設計だ。

その関門を潜り抜ければ、不確定の世界で不慮の破損をかなり防げる。

これを実際に電子回路で実践した経験を持つアナログエンジニアは非常に少ないと思われる。実践すれば、巷で言われている信頼度計算など全く無意味である。アナログエンジニアの個人的な誇りは、100部品を越える回路、かつ屋外環境で数10Fitを下回る実績である。

この設計戦略が、私の高い成功率を支える。

←確率サイ

0-9の乱数が発生でき、かつ検定されています。

最近はPCの乱数発生を使います。

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本日はアーチェリー記録会。私は70ｍ36射×2で221、224＝445点、私の後ろではママさんアーチャーの方が射つ。

同じような凸凹のある6射の点数を出している。気温24度、風も弱い。

後半36射、当たる射と当たらない射がはっきりしている。胃の調子が悪くこの2日間おかゆを食べていた。

今日は3本的を外した。