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  • 単独著
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  • 電源を含む精密アナログ電子回路の設計・開発、およびその教育、技術指導。センサ・アクチュエータシステムの構築。電子機器の不良解析指導および再発防止指導。解析主導型設計の推進と回路シミュレータの実践的活用指導。技術的側面からのプロジェクト管理指導。

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2008年1月31日 (木)

インダクタンスの測定1

インダクタンスの測定には高価なインピーダンスメーターが必要であると思っている方は多いが,通常の実験過程でもインダクタンスは測定できる。

抵抗成分Rをあらかじめ測定しておき,R’の抵抗を接続し,電圧のステップを与えて,一次遅れの応答の63%点を観測するのである。Lの内部抵抗Rと外部抵抗の比からステップの幅が判明し,時定数は(R+R’)Lからインダクタンスの値を測定できる。

この方法はファンクションジェネレータとオシロスコープがあれば使える。

時定数が数ms程度以上なら結構使える測定方法である。

インダクタンスがスイッチングされている場合には,小さな電流検出抵抗R’を入れるだけで測定ができる。

アナログエンジニアはこの方法で,実働状態でちょっと細工してインダクタンスの値を観測することがしばしばある。

精度は少し落ちるが大きな測定間違いが少ない。インダクタンスにステップ電圧をかける回路は案外多い。時定数からインダクタンス値を求める方法は,インダクタンス電流がその内部抵抗により制限されている回路において有効である。

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