インダクタンスの測定２

パルストランスやＱの高いインダクタンスにおいて、周期的に一定電圧がコイルにかかる場所があると、そのコイル電流をオシロスコープ観察すればインダクタンス値を測定できる。

Ｖ＝ＬΔＩ／ΔＴだから電流の変化率とコイルにかかっている電圧Ｖと電流Ｉの時間変化率が判れば、インダクタンス値が求まる。

ΔＴは数１０μ秒から１μ秒くらいであるが多い。

このようなインダクタの電流波形を計るには、適度な電圧降下をおこす小型の低抵抗を挿入して波形観測するのである。この抵抗値と測定場所の選定は，回路の理解が不可欠である。

ここで、適度な低抵抗を選ぶには、インダクタンスの外形や巻き線の太さや使用条件などからインダクタンス値を大雑把に推測することも必要である。

密結合のパルストランスなら、このような波形を観測すればＢ－Ｈカーブを反映しているので、使用条件でのコアの状態が判る。電流が急増するなら例えば飽和に近い状態であると判断する。

インダクタンス電流の繰り返し波形を見るためには、電流を増加させた後に元の状態まで電流を減少させなければならない。この結果、ＳＷ電源やＤＣ－ＤＣコンバータにちかい回路構成で試験することになることが多い。

インダクタンスの性質を理解するには、電流観察が重要と考えるアナログエンジニアである。

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