フォト
無料ブログはココログ

このブログについて

  • 著作権の扱い方
    著作権はコメントを含めて投稿者に帰属します。投稿者本人が著作権をもち、責任も持つという意味です。 リンクはご自由にして構いません。 原則公開です。 批判も含めてコメントは公開いたしますが、営利目的などの記事は、管理者権限で削除することがあります。コメントは管理者の承認後、反映されます。 ただし、TBは現在許可していません。

著作

  • 共著:「次世代センサハンドブック」培風館(2008)、「マイクロセンサ工学」技術評論社(2009.8)
  • 連絡先
    私への講演、セミナー、技術指導などのご依頼はこちらまで↓ okayamaproあっとまーくyahoo.co.jp  あっとまーくは半角の@にしてください
  • 単独著
    アナログ電子回路設計入門 (1994.12)、コロナ社: 実践アナログ回路設計・解析入門 (2005.1)、日刊工業: オペアンプ基礎回路再入門 (2005.7)、日刊工業: ダイオード・トランジスタ回路入門 (2005.12)、日刊工業: スイッチングコンバータ回路入門 (2006.9)、日刊工業: これならわかるアナログ電子回路基礎技術 (2007.6)

専門とする事項

  • 電源を含む精密アナログ電子回路の設計・開発、およびその教育、技術指導。センサ・アクチュエータシステムの構築。電子機器の不良解析指導および再発防止指導。解析主導型設計の推進と回路シミュレータの実践的活用指導。技術的側面からのプロジェクト管理指導。

Twitter

新刊

  • 岡山 努: アナログ電子回路の基礎と入門!これ1冊

« 少子化の影響 | トップページ | インダクタンス回路のスイッチング »

2008年11月25日 (火)

劣化の制御

形あるものは時間の尺度はともかくとして,永遠に存在するものではない。

「劣化の制御」は設定された製品寿命期間中にそのシステムが大過なく動作するための実用上極めて重要な技術である。

モノが何をできるかではなく,いつまで使命を果たすかの予測技術が劣化の制御に直結する。

傷が残るか否かは,材料,負荷の程度,環境に依存する。

昔は半導体は経年変化に伴い特性の変化を覚悟して電子回路を設計する必要があった。

電解コンデンサにおいては,3級アンモニウム電解液から4級アンモニウム塩に各社こぞって移行したとき,大きな問題が生じた。恐らく加速試験における加速率が異なる条件での寿命推定の誤りであろう。

金属疲労に伴う悲惨な事故例はコメット機の空中分解が有名である。低サイクル疲労破断である。御巣鷹山に墜落したジャンボジェット機は補習した隔壁の応力集中による金属疲労である。

電子回路においても,経年変化は存在する。難しいのは傷が累積するかどうかの見極めである。

微細化したICの中では高電流密度の中での,配線材料の移動(マイグレーション)が問題になっている。

高電界下の固体絶縁では部分放電に伴う劣化の進行が流体絶縁とは異なる様相を示す。

モノの損傷を40数年にわたり,追跡した経験のあるアナログエンジニアにとっては深刻な課題である。

日本の工学技術は無数の失敗経験に支えられ,その失敗を真面目に対策することで進歩してきたともいえる。

劣化の制御を扱う研究者に敬意を表したい。

『人気Blogランキング』の「自然科学」部門に参加しています。今日も貴重な応援の1票をよろしくお願いします。【押す】

« 少子化の影響 | トップページ | インダクタンス回路のスイッチング »

「工学」カテゴリの記事

コメント

コメントを書く

コメントは記事投稿者が公開するまで表示されません。

(ウェブ上には掲載しません)

« 少子化の影響 | トップページ | インダクタンス回路のスイッチング »

2013年11月
          1 2
3 4 5 6 7 8 9
10 11 12 13 14 15 16
17 18 19 20 21 22 23
24 25 26 27 28 29 30

現在のランキング