回路の温度試験

  ←ナミアゲハの５令幼虫だと思う。一昨日までは鳥の糞に擬態していた幼虫のようだ。なんとか蛹、羽化まで見届けたいものだ。食草は山椒の葉。

アナログ電子回路の温度特性は、ちょっとした心掛けで温度試験を行う前に温度特性の概略の値を観測できる。

空調環境なら、ほぼ一定温度での状態で筐体に入れた回路を起動して放置する。

短い時定数の変化が確認できるのであれば、さほど多くない部品の自己加熱による温度変化の疑いがある。筐体全体が温まる程度の時間であれば、種々の要因が起因している可能性がある。

今なら、夏場なので、空調を切って帰り、翌日空調投入前に、入力を入れて出力を測定する。それも0％出力と100％出力で観測する。同じことを、空調投入後気温が下がったところで測定する。

このような方法をとれば事前に温度特性を0％と感度＝100％点出力-0％出力に分離して温度特性の概略を半定量的に把握できる。

対象となる回路が時間的に安定であることが大前提なので、回路の調整中は気温をこまめに測定するとともに同一条件でのデーターの再現性を確認しておくのは当然である。

多くの回路部品やセンサは温度の影響を受ける。

精密アナログ回路では、温度による影響と再現性がとても重要である。

起動してから安定するまでの時間が長ければ、温度に影響される部品の存在を疑う必要がある。

本番の温度試験では、仕様の温度幅より広い範囲で測定するとともに、常温付近を複数回測定するのがアナログエンジニアの常とう手段である。温度変化に強い回路は、概して部品のバラツキに対しても頑健である場合が多い。

従って、幾度も繰り返す調整測定の際には、こまめに温度と入出力条件のメモをとることが大切である。

オンラインで概算しながら、データーをとる習慣がより良い回路を構成する重要なプロセスであろう。

『人気Blogランキング』の「自然科学」部門に参加しています。今日も貴重な応援の１票をよろしくお願いします。【押す】